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微電腦溫沖試驗箱適用于電子電器零組件、通訊組件、自動(dòng)化零部件、汽車(chē)配件、化學(xué)材料、金屬、塑膠等行業(yè)、航天、國防工業(yè)、BGA、兵工業(yè)、PCB基扳、電子芯片IC、半導體陶磁及高分子材料之物對高、低溫的反復抵拉力及產(chǎn)品處于熱脹冷縮的物理環(huán)境產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認各種產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機械的組件，無(wú)一不需要它,目前此設備是工業(yè)產(chǎn)業(yè)共認的理想測試工具。
模擬環(huán)境溫度沖擊測試設備可在預約開(kāi)機時(shí)間運轉中自動(dòng)提前預冷、預熱、待機功能。結構設計為蓄熱槽、測試槽、蓄冷槽三部分，被測試物品靜止置放于測試室內，可選擇2區或3區之測試功能?？瑟毩⒃O定高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件之功能，執行冷熱沖擊條件時(shí),具有高低溫試驗機的功能。
冷熱沖擊箱是一種用于測試產(chǎn)品在溫度變化環(huán)境下的穩定性和可靠性的試驗設備。該設備可以模擬高溫、低溫和急速溫度變化的條件，從而評估產(chǎn)品在這些環(huán)境下的耐受能力。
溫沖試驗設備標準試驗目的是為了仿真不同電子構件，在實(shí)際使用環(huán)境中遭遇的溫度條件，改變環(huán)境溫差范圍及急促升降溫度改變，可以提供更為嚴格測試環(huán)境，縮短測試時(shí)間，降低測試費用，但是必須要注意可能對材料測試造成額外的影響，產(chǎn)生非使用狀態(tài)的破壞試驗。
元器件熱沖擊用于測試電子產(chǎn)品，電子，電器，電子產(chǎn)品，電子元器件，數碼產(chǎn)品，手機，電腦，太陽(yáng)能組件等產(chǎn)品及零部件在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續環(huán)境下忍受的程度，得以在Z短時(shí)間內檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。
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